AC measurements and dielectric properties of nitrogen-rich silicon nitride thin films

Czarnacka, Karolina; Komarov, Fadei F.; Romanov, Ivan A.; Żukowski, Paweł; Parkhomenko, Irina N.

doi:10.1109/NAP.2017.8190390

AC measurements and dielectric properties of nitrogen-rich silicon nitride thin films.

AUT. KAROLINA CZARNACKA, FADEI F. KOMAROV, IVAN A. ROMANOV, PAWEŁ ŻUKOWSKI, IRINA N. PARKHOMENKO.

Opis bibliograficzny

AC measurements and dielectric properties of nitrogen-rich silicon nitride thin films. [AUT.] KAROLINA CZARNACKA, FADEI F. KOMAROV, IVAN A. ROMANOV, PAWEŁ ŻUKOWSKI, IRINA N. PARKHOMENKO. W: Nanomaterials: Application & Properties (NAP), 2017 IEEE 7th International Conference [b.m.] 2017, s. 02NTF34-1-02NTF34-4, il., bibliogr, 978-1-5386-2811-9. DOI: 10.1109/NAP.2017.8190390

Skopiowane!

Kliknij opis aby skopiować do schowka

Szczegóły publikacji

Źródło:

Zobacz wydawnictwo nadrzędne Nanomaterials: Application & Properties (NAP), 2017 IEEE 7th International Conference, s. 02NTF34-1-02NTF34-4

Rok: 2017

Język: Angielski

Charakter formalny: Rozdział książki

Typ MNiSW/MEiN: praca oryginalna

Linki zewnętrzne

PBN

5ec0062cad49b31cced9678e

DOI

10.1109/NAP.2017.8190390

Strona WWW

http://ieeexplore.ieee.org/document/819…

Identyfikatory

ISBN: 978-1-5386-2811-9

e-ISBN: 978-1-5386-2810-2

BPP ID: (59, 43010) wydawnictwo zwarte #43010

Metryki

15,00

Punkty MNiSW/MEiN

0

Impact Factor

Eksport cytowania

Wsparcie dla menedżerów bibliografii:
Ta strona wspiera automatyczny import do Zotero, Mendeley i EndNote. Użytkownicy z zainstalowanym rozszerzeniem przeglądarki mogą zapisać tę publikację jednym kliknięciem - ikona pojawi się automatycznie w pasku narzędzi przeglądarki.