BPPAC measurements and dielectric properties of nitrogen-rich silicon nitride thin films.
Opis bibliograficzny
AC measurements and dielectric properties of nitrogen-rich silicon nitride thin films. [AUT.] KAROLINA CZARNACKA, FADEI F. KOMAROV, IVAN A. ROMANOV, PAWEŁ ŻUKOWSKI, IRINA N. PARKHOMENKO. W: Nanomaterials: Application & Properties (NAP), 2017 IEEE 7th International Conference [b.m.] 2017, s. 02NTF34-1-02NTF34-4, il., bibliogr, 978-1-5386-2811-9. DOI: 10.1109/NAP.2017.8190390
Szczegóły publikacji
Źródło:
Rok: 2017
Język: Angielski
Charakter formalny: Rozdział książki
Typ MNiSW/MEiN: praca oryginalna
Informacje dodatkowe
| Liczba arkuszy wydawniczych: | 0.50 |
|---|---|
| Rekord utworzony: | 20 grudnia 2017 13:07 |
| Ostatnia aktualizacja: | 28 kwietnia 2021 08:32 |
Linki zewnętrzne
PBN
5ec0062cad49b31cced9678e
DOI
10.1109/NAP.2017.8190390
Strona WWW
http://ieeexplore.ieee.org/document/819…
Identyfikatory
ISBN: 978-1-5386-2811-9
e-ISBN: 978-1-5386-2810-2
BPP ID: (59, 43010) wydawnictwo zwarte #43010
Metryki
15,00
Punkty MNiSW/MEiN
0
Impact Factor
Eksport cytowania
Wsparcie dla menedżerów bibliografii:
Ta strona wspiera automatyczny import do Zotero, Mendeley i EndNote. Użytkownicy z zainstalowanym rozszerzeniem przeglądarki mogą zapisać tę publikację jednym kliknięciem - ikona pojawi się automatycznie w pasku narzędzi przeglądarki.